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您的位置:首页>服务>技术支持>>AI-6000自动抗干扰精密介质损耗测量仪

 

表面泄漏或屏蔽不良引起正接线测量介质损耗减小的分析

 

(泛华电子)

 

    用末端屏蔽法测量电磁式PT、正接线测量CT或变压器套管,有时会出现介损极小或负值的现象,这主要是绝缘受潮、表面泄漏或屏蔽不良引起的,可分析如下:

示意图

 等效电路图

      CX:试品

      C1高压端对瓷套的杂散电容

      C2:低压端对瓷套的杂散电容

      R:瓷套表面泄漏对地电阻

      1:为试验电压

      2:为仪器输入

 

    这样,C1C2R形成T形网络,由于C1R微分移相作用,使通过C2的电流超前,而使介损减小。设1为外加电压U2接地电位,流过2的电流为:

 

 

    介质损耗因数为实部电流与虚部电流之比,由于第一项为负值,故介损因数减小。

    以CX=120pFC1=1pFC2=0.1pFR=1000MΩ,CX无介损,按上式计算,T形网络引起的附加介损为:-0.025%

 

    同理, 检修用脚手架及包装箱引起正接线测量介质损耗减小:试品对包装箱形成杂散电容,也形成T型网络干扰。

 

    解决方法:

 

        1、擦干净瓷套表面的脏污。

        2、在阳光下曝晒试品或加热烤干瓷套 ,变压器套管吹干中间三裙。

        3、高压线尽量水平拉远,不要贴近瓷套表面 。

        4、改用末端加压法或常规法测量电磁式PT

        5、新设备吊装前试验时,一定要拆掉包装箱和脚手架,移开木梯,解开绳套。做变压器套管时一定要放在套管架上试验,不能斜靠在墙上或躺放在地上。

 

 

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